Главная/Каталог продукции/Оборудование/Анализаторы частиц/Анализатор размера частиц LS 13 320 XR, Beckman Coulter

Анализатор размера частиц LS 13 320 XR, Beckman Coulter

LS 13 320 XR выводит лазерный дифракционный анализ размера частиц на новый уровень. Усовершенствованная технология PIDS и расширенный диапазон измерений обеспечивают более высокое разрешение, а также более точные и воспроизводимые результаты. Вы можете анализировать более широкий спектр частиц и обнаруживать менее заметные различия в образцах быстрее и достовернее. Новое ПО и интуитивно понятный интерфейс помогают получить нужные данные за несколько кликов

Артикул: LS-13-320-XR
Производитель: Beckman Coulter
Доступность в регионах: Беларусь / Казахстан / Россия / Узбекистан

Количество:

- +

Добавить в заявку

Описание

Технология PIDS

ПО

Описание лазерного дифракционного анализатора LS 13 320 XR:

LS 13 320 XR - инструмент, который выводит лазерный дифракционный анализ размер частиц на новый уровень. Благодаря усовершенствованной технологии PIDS он характеризуется высокой разрешающей способностью, расширенным динамическим диапазоном измерений и предоставляет самые точные данные по распределению размеров частиц в сравнении с аналогичными инструментами.

Позволяет быстро получать надежные результаты и оптимизировать эффективность рабочих процессов

Ключевые характеристики:

Возможности измерений	Технологии
Диапазон измерений: 10 нм – 3 500 мкм; 126 детекторов прямого светорассеяния; 6 детекторов PIDS; 2 модуля подачи образцов: для порошков и жидкостей; Среднее время анализа: 30 – 90 сек	Прямое светорассеяние под малыми углами; Технология PIDS: анализ различий в паттернах рассеяния вертикально и горизонтально поляризованного света 3-х длин волн (450, 600 и 900 нм) под 6 углами
Простое ПО	Защита данных
Автоматический контроль качества; Запуск измерений готовым методом за 3 клика или менее; Одинаково доступно как эксперту, так и новичку; Сравнение с предыдущими результатами за 1 клик; Самодиагностика во время измерений и информирование о результатах; Упрощенная настройка методов для стандартизованных измерений	Настраиваемая система защиты; 4 уровня доступа; Соответствие требованиям 21 CFR Part 11

Приложения и области применения:

LS 13 320 XR предназначен для легкого, быстрого и точного QC/QA анализа суспензий, эмульсий и сухих порошков, которые используют или производят следующие отрасли промышленности:

Биофармацевтика;
Пищевая продукция (еда и напитки);
Химические вещества и материалы;
Абразивы;
Цемент;
Косметика;
Тонеры и чернила;
Нанотехнологии

Усовершенствованная технология PIDS (регистрация дифференциального рассеяния поляризованного света) обеспечивает более высокую точность первичных данных, повышенную чувствительность детекторов к вертикально и горизонтально поляризованному рассеянному свету для анализа частиц субмикронных размеров и, следовательно, недоступное ранее качество измерений.

Данные об угловом распределении интенсивности рассеянного поляризованного света, собранные с помощью детекторов PIDS, объединяются с данными, полученными детекторами светорассеяния, и обрабатываются по стандартному алгоритму.

Другим важным преимуществом сбора PIDS-данных является то, что их простая интерпретация помогает быстро установить реальное присутствие маленьких частиц, поскольку большие частицы не способны генерировать дифференциальный сигнал

Простое ПО для LS 13 320 XR оптимизирует рабочие процессы, ускоряет создание методов и упрощает ежедневную работу как опытных пользователей, так и новичков. Возможность настройки индивидуальных СОМ экономит рабочее время сотрудников QC и R&D лабораторий.

Все что требуется сделать перед измерением – задать настройки модуля, а также свойства образца (включая тип материала) и жидкости-носителя. После сохранения метода его можно использовать для всех измерений в режиме 24/7 без создания нового метода. Для запуска готового метода требуется сделать 3 клика:

Выбрать созданный метод;
Задать ID теста и ID группы;
Нажать на кнопку «Страт измерений»

Результаты появятся менее, чем через 1 минуту