Заказ 0
  • На данный момент у Вас ни одной заявки. Пожалуйста, перейдите в каталог, чтобы выбрать товар.

ГлавнаяКаталог продукцииЛабораторное оборудованиеАнализаторы частицЛазерный дифракционный анализатор размера частиц LS 13 320 XR, Beckman Coulter

Лазерный дифракционный анализатор размера частиц LS 13 320 XR, Beckman Coulter

Лазерный дифракционный анализатор размера частиц LS 13 320 XR, Beckman Coulter, LS-13-320-XR

Описание LS 13 320 XR

LS 13 320 XR выводит лазерный дифракционный анализ размера частиц на новый уровень. Усовершенствованная технология PIDS и расширенный диапазон измерений обеспечивают более высокое разрешение, а также более точные и воспроизводимые результаты. Вы можете анализировать более широкий спектр частиц и обнаруживать менее заметные различия в образцах быстрее и достовернее. Новое ПО и интуитивно понятный интерфейс помогают получить нужные данные за несколько кликов.

Особенности LS 13 320 XR

  • Простое ПО LS 13 320 XR с интуитивно понятным функционалом, не требующим от оператора глубоких знаний для получения точных данных;
  • Быстрое начало измерений в 3 клика. Выберите готовый метод, задайте Test-ID и Group-ID и начните измерение;
  • Самоконтроль результатов. Прибор сам проводит диагностику;
  • Автоматический контроль качества (QC). ПО автоматически выделяет результаты измерений зеленым или красным цветом в зависимости от того, лежат ли они или не лежат в пределах требуемых спецификаций;
  • Технология регистрации дифференциального рассеяния поляризованного света (PIDS).

Область применения

LS 13 320 XR предназначен для легкого, быстрого и точного QC/QA анализа суспензий, эмульсий и сухих порошков, которые используют или производят следующие отрасли промышленности:

  • Биофармацевтика;
  • Пищевая продукция (еда и напитки);
  • Химические вещества и материалы;
  • Абразивы;
  • Цемент;
  • Косметика;
  • Тонеры и чернила;
  • Нанотехнологии;

Ключевые характеристики

Расширенный диапазон измерений Усовершенствованная технология PIDS и автомодальность
  • Диапазон измерений: 10 нм – 3 500 мкм;
  • 126 детекторов прямого светорассеяния;
  • 6 детекторов PIDS;
  • 2 модуля подачи образцов: для порошков и жидкостей;
  • Среднее время анализа: 30 – 90 сек.
  • Дифференциальное рассеяние поляризованного света обеспечивает более высокую точность первичных данных и повышенную чувствительность детектора к вертикально и горизонтально поляризованному рассеянному свету для анализа частиц субмикронных размеров;
  • Недоступное ранее качество измерений;
  • Для получения правильных результатов не нужна предварительная информация о распределении частиц по размерам (например, количество фракций и пределы диапазона размеров).
Оптимизированное, интуитивное ПО Соответствие нормативным требованиям и валидация
  • Автоматический контроль качества;
  • Запуск измерений готовым методом за 2 клика;
  • Одинаково доступно как эксперту, так и новичку;
  • Сравнение с предыдущими результатами за 1 клик;
  • Самодиагностика во время измерений и информирование о результатах;
  • Упрощенная настройка методов для стандартизованных измерений.
  • Анализатор LS 13 320 XR располагает специальными инструментами для инсталяционной (IQ) и операционной (OQ) валидации;
  • Опция максимальной безопасности ПО обеспечивает автоматическое соответствие 21 CFR Часть 11.

Усовершенствованная технология PIDS (регистрация дифференциального рассеяния поляризованного света) обеспечивает более высокую точность первичных данных, повышенную чувствительность детекторов к вертикально и горизонтально поляризованному рассеянному свету для анализа частиц субмикронных размеров и, следовательно, недоступное ранее качество измерений.

Данные об угловом распределении интенсивности рассеянного поляризованного света, собранные с помощью детекторов PIDS, объединяются с данными, полученными детекторами светорассеяния, и обрабатываются по стандартному алгоритму.

Другим важным преимуществом сбора PIDS-данных является то, что их простая интерпретация помогает быстро установить реальное присутствие маленьких частиц, поскольку большие частицы не способны генерировать дифференциальный сигнал

Простое ПО для LS 13 320 XR оптимизирует рабочие процессы, ускоряет создание методов и упрощает ежедневную работу как опытных пользователей, так и новичков. Возможность настройки индивидуальных СОМ экономит рабочее время сотрудников QC и R&D лабораторий.

Все что требуется сделать перед измерением – задать настройки модуля, а также свойства образца (включая тип материала) и жидкости-носителя. После сохранения метода его можно использовать для всех измерений в режиме 24/7 без создания нового метода. Для запуска готового метода требуется сделать 3 клика:

  • Выбрать созданный метод;
  • Задать ID теста и ID группы;
  • Нажать на кнопку «Страт измерений»
Результаты появятся менее, чем через 1 минуту

Материалы к прибору для скачивания